骅飞科技在线3D AXI平面CT通过360°环形运动的方式采集投影图，通过边扫描边解析三维重建的方式，快速得到被测物完整数据，根据需求得到任意XY断层图像进行缺陷检测。

适用于BGA/LGA、pressfit connector、Flip chip、PoP、QFN、PTH、IGBT等电子器件检测，发现器件内部的气孔、开路、桥连、枕头效应、润湿不良、缺件、错件等缺陷。